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當前位置：首頁 >產品中心>電阻率測定儀>多功能極片電阻測量系統(tǒng)>ZKJPD-I極片表面電阻測量系統(tǒng)
簡要描述：極片表面電阻測量系統(tǒng)-是一款專為電池極片、導電薄膜、柔性電子材料等設計的精密電阻測量設備，可滿足研發(fā)和質量控制中對材料導電性能的精確測量需求。
產品型號：ZKJPD-I廠商性質：生產廠家 更新時間：2025-06-11訪 問 量：393 相關文章
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極片表面電阻測量系統(tǒng)
ZKJPD-I
產品概述：
極片表面電阻測量系統(tǒng)-電池極片中，影響電導率的主要因素包括箔基材與涂層的結合界面情況，導電劑分布狀態(tài)，顆粒之間的接觸狀態(tài)等；通過電池極片的電導率能夠判斷極片電阻中微觀結構的均勻性，預測電池的性能。同時鋰離子電池極片電阻是影響電池內阻、電壓以及自動放電率的重要因素。
目前測試極片電阻的方法有四探針法和兩探針法，四探針法和兩探針法都無法對被測物體表面施加壓力，且極片的表面涂層由顆粒組成，與探針的接觸面積小，只測量了電阻兩端的電壓值和電流值，故探針無法全面表征極片電阻。
無論是四探針法還是兩探針法都只能表征表面薄層的電阻（即只能用于測量被測物表面的薄層電阻），對于較厚且存在成分梯度電池涂層無法全面表征極片的電阻值，另外，它也不能測試真實極片中涂層與基材之間的接觸電阻。四探針測試法僅測量非導電基材極片，且與測試極片接觸點面積小，極片顆粒大，數(shù)據(jù)無參考意義。
本公司所研發(fā)的可以對電池極片施加可變壓力，可對壓力值、極片電阻值和厚度變化值進行即時測量，并建立二次電池極片的受壓、延展與電阻的變化關系
通過對極片施加不同壓強，可以使極片表面的涂層顆粒產生不同程度的形變，從而改變極片的導電性能。通過測量數(shù)據(jù)可以分析不同壓強下極片的阻值特性，從而對改良極片提供數(shù)據(jù)參考。
測試極片電阻阻值時，電流從極片電阻的端面穿過，使得對極片電阻電阻測量更加精確。
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